| 书目信息 |
| ISBN： |
9780470563533 |
| 中图分类号： |
R814.42 |
| 杜威分类号： |
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| 中文译名： |
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| 作者： |
Jiang Hsieh |
| 编者： |
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| 语种： |
eng |
| 出版信息 |
| 出版社： |
SPIE ;J. Wiley & Sons |
| 出版地： |
Bellingham, Wash. ;Hoboken, N.J |
| 出版年： |
2009 |
| 版本： |
2nd ed |
| 版本类型： |
原版 |
| 丛书题名： |
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| 卷期： |
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| 文献信息 |
| 关键词： |
Tomography;Tomography, X-Ray Computed;Tomography Scanners, X-Ray Computed -- trends;Tomography, X-Ray Computed -- instrumentation;Tomography, X-Ray Computed -- trends |
| 前言： |
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| 摘要： |
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| 内容简介： |
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| 目次： |
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| 附录： |
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| 全文链接： |
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| 读者对象： |
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| 实体信息 |
| 页码： |
556 |
| 装帧： |
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| 尺寸： |
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| 其它形态细节： |
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| 其它信息 |
| 原价： |
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| 原版ISBN： |
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| 图书特色： |
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| 书评： |
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| 扩展信息 |
| 相关附件 |
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