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关键词：
Scanning Probe Microscopy
- The Lab on a Tip
书目信息
ISBN：
9783540431800（13位）
中图分类号：
O4
杜威分类号：
中文译名：
扫描探针显微术：尖端上的实验
作者：
Meyer, Ernst,
编者：
语种：
English
出版信息
出版社：
Springer
出版地：
出版年：
2004
版本：
版本类型：
原版
丛书题名：
Advanced Texts in Physics
卷期：
文献信息
关键词：
Chemistry
前言：
摘要：
内容简介：
Written by three leading experts in the field, this textbook describes and explains all aspects of the scanning probe microscopy. Emphasis is placed on the experimental design and procedures required to optimize the performance of the various methods. Sc anning Probe Microscopy covers not only the physical principles behind scanning probe microscopy but also questions of instrumental designs, basic features of the different imaging modes, and recurring artifacts. The intention is to provide a general tex
目次：
附录：
全文链接：
读者对象：
Grad. textbook
实体信息
页码：
210
装帧：
Hard
尺寸：
其它形态细节：
其它信息
原价：
EUR
59.9500
原版ISBN：
其它ISBN：
图书特色：
书评：
扩展信息
Isbn：
3540431802
issue：
2006JC02
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