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名校购书信息
关键词：
Integrated Circuit Test Engineering
- Modern Techniques
书目信息
ISBN：
9781846280238（13位）
中图分类号：
TN
杜威分类号：
中文译名：
集成电路测试工程学－现代技术
作者：
Ian A. Grout
编者：
语种：
English
出版信息
出版社：
Springer
出版地：
出版年：
2006
版本：
版本类型：
原版
丛书题名：
卷期：
文献信息
关键词：
Engineering
前言：
摘要：
内容简介：
"<P>Taking a three-pronged approach – test engineering from traditional-test, design and manufacturing view-points – <EM>Integrated Circuit Test Engineering</EM> encapsulates the subject as it stands today. After introductory background from basic testing rules to trends in technology, the reader learns about: fabrication processes; a complete range of detailed tests and procedures; how to design for testability; fault simulation; automatic test equipment and the economics of testing. </P> <P>The text incudes:</P> <P>? Worked examples and exercises, well-organized references and bibliography. </P> <P></P> <P>? An introduction to the use of various software and languages such as MATLAB<SUP>?</SUP>, Spice, Verilog<SUP>?</SUP>-HDL and VHDL. <P></P> <P>? A series of experiments based on material downloaded from springeronline.com showing how to construct a hardware test arrangement for MS Windows PCs. <P>This book is a practical tool for advanced undergraduate and graduate electronic engineering students, a resource for their tutors and a guide for the practising electronic engineer.</P>"
目次：
附录：
全文链接：
读者对象：
Grad. textbook
实体信息
页码：
362
装帧：
Soft
尺寸：
其它形态细节：
其它信息
原价：
EUR
72.9500
原版ISBN：
其它ISBN：
图书特色：
书评：
扩展信息
Isbn：
1846280230
issue：
2006JC02
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